4月26日至27日，深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院聯(lián)合美國(guó)QUANTA測(cè)試公司舉辦了“電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試”研討會(huì)，來(lái)自微軟亞洲、富士康、華為、中興、TCL、邁瑞等知名企業(yè)的100多名電子電器行業(yè)企業(yè)代表參加了研討會(huì)。 研討會(huì)邀請(qǐng)了美國(guó)QUANTA測(cè)試公司總裁、可靠性測(cè)試方面的權(quán)威劉杭生博士作為主講，劉博士針就環(huán)境測(cè)試的制定標(biāo)準(zhǔn)、環(huán)境測(cè)試的收益、內(nèi)部測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的優(yōu)缺點(diǎn)及降低費(fèi)用的方法、可靠性測(cè)試方法等內(nèi)容做了詳盡的講解。會(huì)上，專(zhuān)家作了現(xiàn)場(chǎng)解答疑，并與企業(yè)代表進(jìn)行良好的互動(dòng)溝通，現(xiàn)場(chǎng)氣氛十分熱烈。參會(huì)代表紛紛表示，舉辦這樣的研討會(huì)意義重大，不僅為企業(yè)提供一些改進(jìn)質(zhì)量的方法，提升企業(yè)質(zhì)量管理水平，也為電子行業(yè)創(chuàng)造一個(gè)交流新資訊的平臺(tái)，希望能夠多舉辦一些類(lèi)似的活動(dòng)。