7月18日，專門用于3D層析成像和納米技術應用的超高分辨率X射線成像系統開發商Xradia宣布，該公司生產的一臺硬X射線納米探針儀已運往美國阿貢國家實驗室，據稱，這臺儀器是Xradia公司與阿貢實驗室納米材料中心（CNM）共同建造的。硬X射線納米探針（NPI）獲得的分辨率超過30nm ，采用掃描探針和全場傳遞X射線顯微鏡，用于元素和物質結構分析。這臺NPI安裝在阿貢APS（Advanced Photon Source）硬X射線納米探針束（ID-26）上。

　　高分辨率X射線顯微鏡在科學研究及眾多工業領域的作用越來越重要，這些領域包括替代能源、半導體研制、生物技術、生命科學及納米技術和先進材料等。X射線具有的無損穿透性和具有高分辨率顯微鏡功能的X射線光學儀的結合，將為研究人員和工程師對物質內部結構和屬性的認識達到前所未有的水平。

　　阿貢實驗室納米材料中心主任Eric Isaacs博士稱NPI將對納米材料的設計產生革命性的影響。該實驗室首席研究員Jorg Maser也對Xradia公司建造這種裝備的能力表示了贊譽。