新興測量需求解決方案的領導者吉時利儀器公司(NYSE:KEI)，在2007年9月17日發布了其2600系SourceMeter?數字源表的兩款新產品2635和2636，自此形成業界技術最先進、效費比最高的半導體參數分析與測試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數分析技術，實現了高達lfa(10-15安)的測量分辨率，從而滿足了很多半導體、光電和納米器件的測試需求。此外，其基于儀器的多通道架構相比普通的基于主機的源測量方案降低了50%的成本。通過其測試腳本處理器(TSPTM)和TSP-LinkTM互連通信總線，測試工程師可利用2636和2635快速構建用于技術研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、牛產監測等多種測試應用場合的高速測試系統。
　　2635和2636能夠實現從飛安和微伏量級到200V／1.5A范圍的高效費比直流和脈沖測試。它們可以配合PC機或獨立工作，測試速度比普通基于主機的源測量方案快四倍。此外，每種儀器內置1個類似于PC的微處理器，支持各種簡單或復雜的測試程序(腳本)的編程與獨立執行，包括提供信號源、測量、測試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構成自動測試系統，因此對于從事圓片級測試和封裝器件測試工作的元件制造商和半導體廠商都極具吸引力。同時，對于需要快速、方便地進行器件與材料I-V特征分析的各領域研究人員和學者而言，其低成本優勢十分誘人。