1月23日，HORIBA Jobin Yvon向外界發(fā)布了該公司最新一款LabRAM型拉曼/光致發(fā)光顯微鏡，這款臺式系統(tǒng)是專為納米材料的分子表征而度身打造的。 典型的納米材料，諸如：碳納米管（CNT）、氮化硼、自組裝膜（SAM）以及LB膜、聚合物和半導體等，通常是采用拉曼顯微鏡對它們的組成及純度、碳納米管的手性特征和內(nèi)徑、應力/張力、結(jié)晶度、同質(zhì)性等進行分析的。然而，許多納米材料的光致發(fā)光特性對于研究它們的電子結(jié)構(gòu)同樣是非常重要的。現(xiàn)在LabRAM實現(xiàn)了在一臺系統(tǒng)上即可同時對一份樣品進行拉曼和光致發(fā)光分析。 該系統(tǒng)的光致發(fā)光光源具有極寬的波長范圍，因此LabRAM配置了一個高性能的雙檢測系統(tǒng)，可檢測波長從200 nm~2.2 ìm。無論是對于檢測信號在紫外/可見藍光區(qū)的氮化硼，還是在近紅外區(qū)的CNT和半導體，LabRAM都保持了一個很高的光通量和靈敏度。 而在進行拉曼分析的時候，系統(tǒng)的激光光源的波長可從紫外一直到紅外，同樣為分析人員提供了一個很寬的可供選擇的波長范圍，從而保證了拉曼分析在散射效率、目標尺寸、穿透深度、共振效應以及消除熒光干擾等方面的最優(yōu)化，使得分析人員在盡可能短的時間內(nèi)得到盡可能多的有用信息。 此外，LabRAM無與倫比的亞微米空間分辨率，使得該系統(tǒng)可快速、方便地獲得樣品的多相性、化學分布、應力/張力變化等方面的拉曼/光致發(fā)光圖象數(shù)據(jù)。而系統(tǒng)的毫微級三維定位系統(tǒng)則保證了樣品任何一絲特性在分析時均不會被遺漏。