全球領先的半導體測試公司惠瑞捷半導體科技 (NASDAQ: VRGY) 今日宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲器制造商在應用V5000e進行工程，測試開發和調試時獲得并行測試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測試12顆芯片（DUT），減少產線上的操作人員的時間，同時大幅度提高了總產能。此矩陣還將V5000e的引腳數量從128提高到768個測試器資源引腳，從而能夠測量具有更高引腳數量的多種類型存儲器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。

      由于產品壽命周期不斷縮短，制造商需要將測試開發時間降至最低。同時，各種存儲器芯片在測試平臺上有了更多的融合。為了應對測試所有這些類型芯片所面臨的挑戰，制造商需要面向工程開發的測試系統具有并行能力和靈活性。然而，在工程開發的環境下，如果使用成熟的面向大規模生產的測試系統既不能節省成本，通常也不符合實際。配備了矩陣的V5000e 就可以應對這些挑戰，降低測試開發時間。

      惠瑞捷存儲測試解決方案部門副總裁兼總經理Gayn Erickson說：“對于那些正在尋找一套測試開發系統的存儲器制造廠商而言，以前最佳的選擇就是花費數百萬另建一套最終測試系統。然而借助于該矩陣，V5000e的用戶可以在測試開發和調試的環境下使用這些功能?！?/FONT>