馬薩諸塞州沃爾瑟姆--ExcelitasTechnologies公司今天宣布，該公司在對固態硅光電倍增管(SiPM)技術進行開發和實用化過程中，取得了破紀錄的世界級高光子探測效率(PDE)與低暗計數的性能成果。固態硅光電倍增管是Excelitas針對醫療與分析儀器市場的微光探測(L3D)技術與產品套件的一大重要組成部分。
　　
　　該測試成果已經在“CERNIndustry-Academia Matching Eventon SiPM and Related Technologies”(歐洲核電子中心固態硅光電倍增管及相關技術產學研對接活動)上發表并公布。此項活動于2011年2月16日至17日在瑞士日內瓦舉行，共有120名從事尖端光子探測工作或研究的產業界與學術界專家參加。
　　
　　2009年，該公司與Max Planck Society(德國馬普學會)的技術轉讓機構Max Planck Innovation就其超高速、低串擾的固態硅光電倍增管技術簽訂獨家協議。硅光電倍增管的光子探測效率高，響應時間短，功耗低，是熒光與分子成像等多種微光應用的理想之選。
　　
　　Excelitas全球探測業務部高級副總裁兼總經理MichaelErsoni表示：“Excelitas非常高興能夠展示固態硅光電倍增管技術的突破性技術成果。我們非常高興能夠發布這項目前最先進的成果，對人們對在真實實驗狀況下測試與評估Excelitas硅光電倍增管技術所表現出的濃厚興趣感到非常欣慰。”
　　
　　Ersoni先生還補充：“Excelitas堅定不移地致力于實現其微光探測產品與技術的快速增長，以滿足生命科學、臨床診斷以及分析儀器領域最先進應用的大量需求。”
　　
　　3月13日至18日，Pittcon2011(2011年美國分析化學和光譜應用會議暨展覽會)將在亞特蘭大喬治亞世界會議中心(GeorgiaWorldCongressCenter)舉行。屆時ExcelitasTechnologies將在5060號展位展示專為分析儀器與生命科學市場量身定制的光發射及微光探測解決方案。