最近，具有世界領(lǐng)先的顯微分析技術(shù)和產(chǎn)品的牛津儀器納米分析部宣布AZtecTEM??專配透射電子顯微鏡的能譜軟件正式發(fā)行。自從2011年掃描電子顯微鏡的Aztec分析系統(tǒng)公布后，AZtecTEM早已蓄勢待發(fā)，意欲在透射電鏡領(lǐng)域大展拳腳了。

　　AZtecTEM專門為TEM工作者提供了最新的顯微分析技術(shù)平臺。該系統(tǒng)可以最大限度的發(fā)揮新一代大面積能譜儀X-Max的優(yōu)勢，即使計數(shù)率比較低，也可以采集到足夠多的計數(shù)，保證能譜分析的準(zhǔn)確性。獨一無二的Tru -Q引擎將材料的全面及細節(jié)分析提高到新的高度。TEM工作者首次可以利用AZtec's疊加校正得到的TruMap和TruLine，真正準(zhǔn)確并實時地觀察材料的化學(xué)成分變化。同時，Aztec TEM使用自動預(yù)估漂移校正，保證納米尺度樣品檢測的準(zhǔn)確性。

　　納米分析部的執(zhí)行董事Ian Barkshire博士談到，“牛津儀器一直居于納米技術(shù)的領(lǐng)先地位，我們已開發(fā)出多種高精尖分析設(shè)備，AztecTEM的推出是三十多年來解決并處理全世界眾多TEM問題過程中不斷總結(jié)發(fā)展的經(jīng)驗結(jié)晶，是全世界TEM工作者努力的結(jié)果。”