隨著高端裝備、高端儀器、光通訊及信息等領域的發展，超精加工電子元件、光纖器件等的質量及其微表面檢測技術的要求不斷提高，光纖芯關鍵幾何參量的量值溯源技術越發成為相關零部件產品甚至整體系統的重要質量基礎之一。目前光纖建設已超過5億芯公里，5G作為國家新基建戰略的重點領域，對光纖要求將更高，纖芯關鍵參量精確控制對光通信信號傳輸質量至關重要。
近日，廣州計量院獨立承擔完成的國家市場監管總局科技項目《微納纖芯顯微干涉溯源系統研究與應用》順利通過評審委員會驗收評審，評審專家一致建議盡快加強項目研究成果的應用推廣。
隨著新技術的不斷迭代，光學顯微干涉技術成為了超精密元器件檢測領域的研究熱點和重要技術手段。《微納纖芯顯微干涉溯源系統研究與應用》項目面向新基建的微納米纖芯顯微干涉溯源系統研究與應用，著力攻克纖芯顯微干涉成像擴展技術，旨在提出融合光路及其微納米相移的纖芯溯源系統方案，研制出大范圍多量值的溯源標準器，開發出纖芯關鍵幾何參量可溯源系統平臺。
該項目針對微納光纖纖芯幾何參量尺度小、測量準確性要求高、量值溯源難度大、實物標準量值單一等問題，開展關鍵技術研究，能實現非接觸微納米纖芯表面形貌重構與快速測量以及光纖校準標樣的可控制備，用戶使用反饋良好，取得較好的社會經濟效益，有效提高檢測準確度、效率和可溯源性。
上述成果不僅能填補國內溯源標準器空白，而且還能推動光通信新材料與納米技術與計量檢測技術深度融合、緩解國內產業在高端光纖芯計量技術領域長期受制于歐美國家的“卡脖子”問題、促進光通信產業的高質量發展，對于落實我國加強新型基礎設施建設的戰略布局，服務國家搶抓5G基礎設施建設發展的重大戰略機遇，構筑起新信息技術發展的先發優勢具有重要意義。
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